کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7122535 | 1461493 | 2016 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A compilation of patents related to mechanical metrology standards and high-precision measurement of mechanical quantities
ترجمه فارسی عنوان
مجموعه ای از پتنت های مربوط به استانداردهای اندازه گیری مکانیکی و اندازه گیری دقیق مقادیر مکانیکی با دقت بالا
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
کالیبراسیون، نوآوری، استانداردهای اولیه، ابزار مرجع، بررسی سیستماتیک،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
کنترل و سیستم های مهندسی
چکیده انگلیسی
The paper aims to provide a source of information regarding the measurement of physical quantities, specifically those related to mechanical metrology. Since there is a lack of literature reviews referencing patents as a way of gathering useful information, we performed a systematic search for patents that could solve practical problems in this field. The methodology used focused on one of the most comprehensive patent database, Orbit.com, covering about 70,000,000 documents. This text gives a quick look at the fundamentals of the measurement literature and then points out the state-of-the-art concerning patents in the area of study. Additionally, data analysis shows the trends in the last five decades of patents about the subject. In total, 5686 documents are found and we compiled 10 examples of relevant patents for the quantities Length, Temperature and Mass, making this article a source of information for both scientific and non-scientific metrology community.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Measurement - Volume 94, December 2016, Pages 523-530
Journal: Measurement - Volume 94, December 2016, Pages 523-530
نویسندگان
Rodrigo Junqueira Leão, Luis Felipe Silva Cassales, Yuri Basile Tukoff-Guimarães, Manuel Antônio Pires Castanho,