کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7125178 1461532 2014 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Uncertainty analysis of degradation parameters estimated in long-term monitoring of photovoltaic plants
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل عدم قطعیت پارامترهای تخریب تخمینی در نظارت طولانی مدت گیاهان فتوولتائیک
کلمات کلیدی
اندازه گیری متغیر الکتریکی، عدم قطعیت، کالیبراسیون، سیستم های قدرت فتوولتائیک، اکتساب داده ها، تنزل،
ترجمه چکیده
این مقاله به بررسی عدم قطعیت پارامترهای تخمینی در طول نظارت طولانی مدت گیاهان فتوولتائیک می پردازد. به طور خلاصه توصیف شده است که سیستم به دست آوردن اطلاعات به طور خاص توسعه یافته است، که به راحتی کالیبره شده است و در صورت لزوم تنظیم می شود تا جابجایی راندمان زنجیره ای را جبران کند تا ردیابی پارامترهای برآورد شده را تضمین کند. قابلیت اندازه گیری سیستم اکتساب بر اساس مقادیر اندازه گیری شده و عدم اطمینان مورد انتظار گزارش شده است. نتایج نشان می دهد که یک نظارت سه ساله بر روی ده گیاه فتوولتائیک بر اساس تکنولوژی ها و معماری های مختلف گزارش شده است. عدم قطعیت به دست آمده برای تشخیص رفتار گیاهان مختلف مناسب است، بنابراین امکان مقایسه مقدماتی بین فن آوری ها و معماری ها فراهم می شود. نتایج تجربی یک تفاوت مهم بین دستگاه های سیلیکون بلوری و تکنولوژی های فیلم نازکی در رابطه با تخریب را برجسته می کند.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی کنترل و سیستم های مهندسی
چکیده انگلیسی
This paper deals with the uncertainty analysis of parameters estimated during long-term monitoring of photovoltaic plants. A specifically developed data-acquisition system is briefly described, which has been conceived to be easily calibrated and, if necessary, adjusted to compensate for measuring-chain drifts, in order to assure the traceability of the estimated parameters. The measurement capabilities of the acquisition system are reported in terms of measured quantities and expected uncertainty. Results that refer to a three-year monitoring of ten photovoltaic plants based on different technologies and architectures are reported. The obtained uncertainty is suitable to distinguish the behavior of the different plants, thus allowing a preliminary comparison to be performed among technologies and architectures. Experimental results highlight an important difference between crystalline silicon devices and thin film technologies in regards to degradation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Measurement - Volume 55, September 2014, Pages 641-649
نویسندگان
, , , , ,