کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7125430 | 1461536 | 2014 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Flaw detection and measurement for 4K Ultra HD thin-film-transistor array panel
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
کنترل و سیستم های مهندسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Flaw detection and measurement for 4K Ultra HD thin-film-transistor array panel Flaw detection and measurement for 4K Ultra HD thin-film-transistor array panel](/preview/png/7125430.png)
چکیده انگلیسی
Display pixels of liquid-crystal-display televisions (LCD TVs) on thin-film-transistor (TFT) array are getting smaller. This paper introduced the method of voltage imaging technique, which developed and provides initial insight into the thin-film-transistor array flaw detection and measurement for ultra-high-definition (Ultra HD, UHD) LCD TV application. We proposed the measurement of flaw detection, based on TFT array testing and characterization with respect to opto-electric transformation measurement.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Measurement - Volume 51, May 2014, Pages 236-240
Journal: Measurement - Volume 51, May 2014, Pages 236-240
نویسندگان
Yao-Chin Wang, Bor-Shyh Lin, Kei-Hsiung Yang,