کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی ترجمه فارسی نسخه تمام متن
7131917 1461690 2018 8 صفحه PDF سفارش دهید دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Generic distortion model for metrology under optical microscopes
ترجمه فارسی عنوان
مدل اعوجاج عمومی برای اندازه گیری در میکروسکوپ نوری
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
سفارش ترجمه تخصصی
با تضمین قیمت و کیفیت
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
چکیده انگلیسی
For metrology under optical microscopes, lens distortion is the dominant source of error. Previous distortion models and correction methods mostly rely on the assumption that parametric distortion models require a priori knowledge of the microscopes' lens systems. However, because of the numerous optical elements in a microscope, distortions can be hardly represented by a simple parametric model. In this paper, a generic distortion model considering both symmetric and asymmetric distortions is developed. Such a model is obtained by using radial basis functions (RBFs) to interpolate the radius and distortion values of symmetric distortions (image coordinates and distortion rays for asymmetric distortions). An accurate and easy to implement distortion correction method is presented. With the proposed approach, quantitative measurement with better accuracy can be achieved, such as in Digital Image Correlation for deformation measurement when used with an optical microscope. The proposed technique is verified by both synthetic and real data experiments.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics and Lasers in Engineering - Volume 103, April 2018, Pages 119-126
نویسندگان
, , , , , ,
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
سفارش ترجمه تخصصی
با تضمین قیمت و کیفیت