Simulation study on the degradation process of photovoltaic modules

تخریب ظرفیت تحویل فتوولتائیک در طول زمان را کاهش می دهد. مطالعات در مورد تخریب فتوولتائیک معمولا بر اساس تست های شتاب دهنده یا تست های ثبت شده که وقت گیر هستند و نیاز به تلاش زیادی دارند. در این مقاله، فرآیند تخریب ماژول های فتوولتائیک با استفاده از مطالعات شبیه سازی انجام شده است. یک مدل مبتنی بر مدار برای توصیف ویژگی های فتوولتائیک به شرایط محیطی و عوامل پیرامون ماژول های فتوولتائیک استفاده می شود. تجزیه و تحلیل هر عامل پیری نشان می دهد که کاهش جریان جریان کوتاه، دلیل اصلی از دست دادن قدرت، عمدتا ناشی از تخریب نوری است. کاهش فاکتور پر شدن عمدتا به علت کاهش مقاومت در برابر انگل، خروجی قدرت را بدتر می کند. تجزیه و تحلیل آماری پارامترهای مشخصه فتوولتائیک بر اساس تعداد زیادی از ماژول های فتوولتائیک با تکنولوژی مشابه نشان می دهد که فرایند تخریب می تواند بسته به الگوهای تخریب عوامل پیری بسیار پیچیده باشد. به طور کلی، از دست دادن قدرت به افزایش می رسد و عدم انطباق در ماژول فتوولتائیک در طول زمان قابل توجه است.