A dynamic void growth model governed by dislocation kinetics

در اینجا، نقش سینتیک جابجایی و تکامل ساختار پایه را بر رشد پویایی حفره ها تحت نرخ های بسیار شدید فشار بررسی می کنیم و روش شناسی برای این اثرات را در یک روش کارآمد به کار می بریم. به طور خاص، ما برای اثرات ترکیبی کشش نسبی گسسته جابجایی و تراکم جابجایی تلفن همراه در پویایی رشد خالی حساب می کنیم. ما این اثرات را به محدودیت های تحریک شده توسط میکروارزایی مقایسه می کنیم و شرایطی را مطرح می کنیم که در آن هر مکانیزم نرخ رشد خالی را کنترل می کند. عواقب این محدودیت ها ممکن است در تعدادی از مشاهدات تجربی در ارتباط با شکست پویا کششی، از جمله حساسیت شدید برشی مقاومت کششی که در آزمایشات شوک لیزری دیده می شود، یک وابستگی غیرمعمولی ناخوشایند معتدل از قدرت ریزش، و برخی از ویژگی های خاص خالی توزیع اندازه بر روی سطوح ضربه.