کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7217205 1470237 2018 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nanoscale residual stress depth profiling by Focused Ion Beam milling and eigenstrain analysis
ترجمه فارسی عنوان
پروفیل عمق استحکام باقی مانده نانومتر با استفاده از آنالیز واریانس یونی فشاری متمرکز شده و منگنسترین
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی (عمومی)
پیش نمایش مقاله
پروفیل عمق استحکام باقی مانده نانومتر با استفاده از آنالیز واریانس یونی فشاری متمرکز شده و منگنسترین
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials & Design - Volume 145, 5 May 2018, Pages 55-64
نویسندگان
, , , , , , , , ,