کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
728945 | 892864 | 2006 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Distorted surface topography observed by atomic force microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
کنترل و سیستم های مهندسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Topography of Au thin films deposited by magnetron sputtering technique on a silicon substrate was studied by atomic force microscopy (AFM). Distortion of the surface morphologies as a result of interaction between the film and the probe tip was observed. Some topographical morphologies that look like perfect were distorted. Thus, the reality of the topography by AFM, in some cases, needs to be re-evaluated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Measurement - Volume 39, Issue 1, January 2006, Pages 12–15
Journal: Measurement - Volume 39, Issue 1, January 2006, Pages 12–15
نویسندگان
L.X. Li, R.P. Liu, Z. Xu, Y. Xu, W.K. Wang, C.Z. Fan,