کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
729574 | 1461517 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electro-optical measurement and process inspection for integrated gate driver circuit on thin-film-transistor array panels
ترجمه فارسی عنوان
اندازه گیری و بازرسی فرآیند الکترو نوری برای مدار یکپارچه درایو بر روی پانل های آرایه نازک فیلم ترانزیستور
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
کنترل و سیستم های مهندسی
چکیده انگلیسی
The study proposed electro-optical measurement and process inspection for integrated-gate-driver circuit on thin-film-transistor array panel. It is a trend on the developing with application of integrated gate driver circuit in the narrow frame design and reduction of driver integrated circuit chips in thin-film-transistor array backplane. Over the past, it cannot detect that contain integrated-gate-driver circuit on thin-film-transistor array panel, especially in process defects of the integrated-gate-driver circuit. The paper proposed a process inspection for the defects in integrated-gate-driver circuit on the thin-film-transistor array panel by the voltage imaging technique and reported good performance.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Measurement - Volume 70, June 2015, Pages 83–87
Journal: Measurement - Volume 70, June 2015, Pages 83–87
نویسندگان
Yao-Chin Wang, Bor-Shyh Lin, Ming-Che Chan,