کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
731061 | 893025 | 2007 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Jitter measurement circuit for mixed signal production test
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
کنترل و سیستم های مهندسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
This paper presents a novel low-cost jitter measurement circuit for production test. The hardware implementation is based on the so-called analytic signal method. The circuit consists of two parts: high-speed ADC sampling and DSP computation. The uniqueness of this circuit comes from the fact that the FPGA is used as both the ADC sampling controller and the main computation engine, which can significantly reduce the test cost. To validate the design effectiveness, measurements results have been compared between various instruments and this proposed circuit.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Measurement - Volume 40, Issue 3, April 2007, Pages 272–282
Journal: Measurement - Volume 40, Issue 3, April 2007, Pages 272–282
نویسندگان
Tian Xia, Justin Campbell, Jing Li, Randy Wolf, John F. Sweeney,