کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7699797 | 1496795 | 2018 | 23 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reflectance anisotropy spectroscopy applied to organic thin films: The role of the substrate
ترجمه فارسی عنوان
طیف سنجی آنالایزر بازتابی برای فیلم های نازک آلی اعمال می شود: نقش سوبسترا
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
رشد لایه الی، رسوب آلی مولکولی، نظارت بی وقفه بر رشد، طیف سنجی بی نهایت بازتابی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی (عمومی)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 62, November 2018, Pages 102-106
Journal: Organic Electronics - Volume 62, November 2018, Pages 102-106
نویسندگان
A. Sassella, L. Raimondo, L. Fazi, S. Trabattoni, B. Bonanni, G. Bussetti, C. Goletti,