کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7699797 1496795 2018 23 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Reflectance anisotropy spectroscopy applied to organic thin films: The role of the substrate
ترجمه فارسی عنوان
طیف سنجی آنالایزر بازتابی برای فیلم های نازک آلی اعمال می شود: نقش سوبسترا
کلمات کلیدی
رشد لایه الی، رسوب آلی مولکولی، نظارت بی وقفه بر رشد، طیف سنجی بی نهایت بازتابی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی (عمومی)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 62, November 2018, Pages 102-106
نویسندگان
, , , , , , ,