کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7700166 | 1496800 | 2018 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comprehensive understanding of degradation mechanism of high efficiency blue organic light-emitting diodes at the interface by hole and electron transport layer
ترجمه فارسی عنوان
درک جامع از مکانیزم تخریب دیودهای آبی نور آبی با وضوح بالا در رابط توسط لایه انتقال حفره و الکترون
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
تنزل، طول عمر، مواد حمل بار سوراخ، مواد حمل و نقل الکترونی دستگاه آبی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی (عمومی)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 57, June 2018, Pages 158-164
Journal: Organic Electronics - Volume 57, June 2018, Pages 158-164
نویسندگان
Wook Song, Jun Yeob Lee, Taekyung Kim, Yoonkyoo Lee, Hyein Jeong,