کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7836129 | 1503539 | 2018 | 49 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A perspective on two chemometrics tools: PCA and MCR, and introduction of a new one: Pattern recognition entropy (PRE), as applied to XPS and ToF-SIMS depth profiles of organic and inorganic materials
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 433, 1 March 2018, Pages 994-1017
Journal: Applied Surface Science - Volume 433, 1 March 2018, Pages 994-1017
نویسندگان
Shiladitya Chatterjee, Bhupinder Singh, Anubhav Diwan, Zheng Rong Lee, Mark H. Engelhard, Jeff Terry, H. Dennis Tolley, Neal B. Gallagher, Matthew R. Linford,