| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن | 
|---|---|---|---|---|
| 7838539 | 1504815 | 2018 | 28 صفحه PDF | دانلود رایگان | 
عنوان انگلیسی مقاله ISI
												Surface properties of SiO2 with and without H2O2 treatment as gate dielectrics for pentacene thin-film transistor applications
												
											دانلود مقاله + سفارش ترجمه
													دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
																																												کلمات کلیدی
												
											موضوعات مرتبط
												
													مهندسی و علوم پایه
													شیمی
													شیمی تئوریک و عملی
												
											پیش نمایش صفحه اول مقاله
												 
												ناشر
												Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 691, January 2018, Pages 141-145
											Journal: Chemical Physics Letters - Volume 691, January 2018, Pages 141-145
نویسندگان
												Cheng-Chun Hung, Yow-Jon Lin,