کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7838539 | 1504815 | 2018 | 28 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Surface properties of SiO2 with and without H2O2 treatment as gate dielectrics for pentacene thin-film transistor applications
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 691, January 2018, Pages 141-145
Journal: Chemical Physics Letters - Volume 691, January 2018, Pages 141-145
نویسندگان
Cheng-Chun Hung, Yow-Jon Lin,