کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7845038 | 1508420 | 2016 | 44 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
How to control solid state dewetting: A short review
ترجمه فارسی عنوان
چگونه برای کنترل خنثیسازی حالت جامد: یک بررسی کوتاه
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
خنثی کردن حالت جامد، سیلیکون روی مقره، نانوکریستال، دینامیک فیلمهای سبک نازک، خودمجموعه، مهندسی خنثی سازی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
Ideal systems for studying solid state dewetting are single crystalline films deposited or bonded on amorphous substrates, so that, among the numerous dewetting systems reported in the literature, ultra-thin crystalline silicon-on-insulator (SOI) film (a Si film bonded on an amorphous SiO2 substrate) is considered as a model system for studying how to control solid state dewetting. Other systems, as Ni epitaxially grown on MgO, are also used to illustrate the different approaches for a “dewetting engineering”.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science Reports - Volume 71, Issue 2, June 2016, Pages 391-409
Journal: Surface Science Reports - Volume 71, Issue 2, June 2016, Pages 391-409
نویسندگان
F. Leroy, Å. Borowik, F. Cheynis, Y. Almadori, S. Curiotto, M. Trautmann, J.C. Barbé, P. Müller,