Comparative study of the phase stability in SrTaO2N

Recientemente, se observó comportamiento ferroeléctrico en películas delgadas de SrTaO2N crecidas epitaxialmente sobre sustratos de SrTiO3. En mediciones de microscopía de fuerza piezoeléctrica se observaron pequeños dominios (101-102 nm) que exhibieron ferroelectricidad clásica. Este comportamiento no fue observado previamente en oxinitruros de perovskita. La región de la matriz circundante a estos dominios presentaron un comportamiento del tipo relaxor. En muestras macroscópicas de SrTaO2N no fue encontrada ferroelectricidad, lo que sugiere que el origen de la misma puede estar relacionado con el esfuerzo de corte inducido por el sustrato. Cálculos ab-initio realizados previamente parecen concluir que los pequeños dominios ferroeléctricos y la matriz circundante tienen disposiciones de aniones del tipo trans y cis, respectivamente, pero en ellos no se predice la fase de equilibrio observada experimentalmente, ni la polarización neta resultante en la estructura ferroeléctrica dependiente del esfuerzo de corte. En este trabajo presentamos cálculos de primeros principios de alta precisión realizados sobre las diferentes estructuras locales posibles que pueden explicar las propiedades ferroeléctricas del material bajo esfuerzo. La estructura local determinada y el ordenamiento de oxígeno/nitrógeno se han relacionado con la polarización y la deformación epitaxial. Como producto de ello se calcularon las energías potenciales y la polarización neta como funciones de la constante de la red paralela al plano de la interfase.