کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7898408 1510134 2018 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The structural and mechanical characterization of TiC and TiC/Ti thin films grown by DC magnetron sputtering
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
The structural and mechanical characterization of TiC and TiC/Ti thin films grown by DC magnetron sputtering
چکیده انگلیسی
The hardness of thin films agree with structural observations. The highest hardness value (∼26 GPa) showed the c-TiC thin film with 67 at% Ti content. The nanohardness values showed decreasing character with increasing Ti content over 70 at.%. The lowest values of nanohardness (∼10 GPa) was observed for thin films with only h-Ti phase.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of the European Ceramic Society - Volume 38, Issue 7, July 2018, Pages 2886-2892
نویسندگان
, , , , , , ,