کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7898408 | 1510134 | 2018 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The structural and mechanical characterization of TiC and TiC/Ti thin films grown by DC magnetron sputtering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The hardness of thin films agree with structural observations. The highest hardness value (â¼26â¯GPa) showed the c-TiC thin film with 67â¯at% Ti content. The nanohardness values showed decreasing character with increasing Ti content over 70â¯at.%. The lowest values of nanohardness (â¼10â¯GPa) was observed for thin films with only h-Ti phase.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of the European Ceramic Society - Volume 38, Issue 7, July 2018, Pages 2886-2892
Journal: Journal of the European Ceramic Society - Volume 38, Issue 7, July 2018, Pages 2886-2892
نویسندگان
Zsolt Fogarassy, Nikolett Oláh, Ildikó Cora, Zsolt Endre Horváth, Tamás Csanádi, Attila Sulyok, Katalin Balázsi,