کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7902649 | 1510455 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Angstrom-beam electron diffraction of amorphous materials
ترجمه فارسی عنوان
پراش الکترونی آنترومبر از مواد غیر آلی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
شیشه، پراش الکترونی، میکروسکوپ الکتریکی انتقال اسکن، سفارش کوتاه مدت، سفارش متوسط،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
چکیده انگلیسی
We have developed an Angstrom-beam electron diffraction (ABED) technique for structure characterization of amorphous materials using a state-the-of-art spherical aberration-corrected scanning transmission electron microscope. The focused electron beam with a diameter of ~Â 0.4Â nm, comparable to the size of short range order in glasses, enables us to directly detect local atomic structure of disordered materials in a diffraction mode. In this paper we briefly introduce the basic principle of ABED and preliminary applications in structural characterization of metallic glasses and oxide glasses. We also discuss the effect of sample thickness and the method to study medium range order of glassy materials using ABED.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 383, 1 January 2014, Pages 52-58
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 383, 1 January 2014, Pages 52-58
نویسندگان
Akihiko Hirata, Mingwei Chen,