کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7910992 | 1510855 | 2018 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atom probe tomography for advanced nanoelectronic devices: Current status and perspectives
ترجمه فارسی عنوان
توموگرافی پروب اتم برای دستگاه های پیشرفته نانو الکترونیک: وضعیت فعلی و دیدگاه ها
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
پروب اتم بازسازی، نانو الکترونیک،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 148, 15 April 2018, Pages 91-97
Journal: Scripta Materialia - Volume 148, 15 April 2018, Pages 91-97
نویسندگان
J.P. Barnes, A. Grenier, I. Mouton, S. Barraud, G. Audoit, J. Bogdanowicz, C. Fleischmann, D. Melkonyan, W. Vandervorst, S. Duguay, N. Rolland, F. Vurpillot, D. Blavette,