کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7910992 1510855 2018 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atom probe tomography for advanced nanoelectronic devices: Current status and perspectives
ترجمه فارسی عنوان
توموگرافی پروب اتم برای دستگاه های پیشرفته نانو الکترونیک: وضعیت فعلی و دیدگاه ها
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 148, 15 April 2018, Pages 91-97
نویسندگان
, , , , , , , , , , , , ,