کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7911005 1510855 2018 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Spatially correlated electron microscopy and atom probe tomography: Current possibilities and future perspectives
ترجمه فارسی عنوان
میکروسکوپ الکترونی همبستگی و توموگرافی پروب اتم: فرصت های جاری و دیدگاه های آینده
ترجمه چکیده
انجام میکروسکوپ الکترونی و توموگرافی پروب اتم در همان محل بر روی یک نمونه از ترکیبات قدرتمندی از میکروسکوپ الکترونی، که عمدتا تجزیه و تحلیل نقصها و ساختارهای بلوری است، با شدتهای توموگرافی پروب اتم که عمدتا دقیق، دقیق و حساس است تجزیه و تحلیل ترکیبی سه بعدی. مقاله ای از این دیدگاه، خلاصه ای از طیف گسترده ای از تکنیک های میکروسکوپ الکترونی را که تاکنون در نمونه های نمونه های اتم انجام شده است، ارائه می دهد. این توصیف می کند که بهترین روش برای پاسخگویی به یک سوال علمی مواد، مناسب است و با چشم انداز تحولات آینده ممکن در این زمینه پایان می یابد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
چکیده انگلیسی
Performing electron microscopy and atom probe tomography at the same location on the same specimen combines the strengths of electron microscopy, which is primarily the analysis of defects and crystal structures, with the strengths of atom probe tomography, which is primarily the robust, accurate and sensitive three dimensional compositional analysis. This viewpoint article provides a summary of the broad range of electron microscopy techniques that have been performed on atom probe specimens to date. It describes what technique is best suited to address a specific materials science question and finishes with an outlook on possible future developments in the field.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 148, 15 April 2018, Pages 98-105
نویسندگان
,