کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7911843 | 1510883 | 2016 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Determination of sample surface topography using electron back-scatter diffraction patterns
ترجمه فارسی عنوان
تعیین توپوگرافی سطح نمونه با استفاده از الگوی الکترونی پراکندگی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 120, 15 July 2016, Pages 23-26
Journal: Scripta Materialia - Volume 120, 15 July 2016, Pages 23-26
نویسندگان
M. Chapman, P.G. Callahan, M. De Graef,