کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7911843 1510883 2016 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Determination of sample surface topography using electron back-scatter diffraction patterns
ترجمه فارسی عنوان
تعیین توپوگرافی سطح نمونه با استفاده از الگوی الکترونی پراکندگی
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش مقاله
تعیین توپوگرافی سطح نمونه با استفاده از الگوی الکترونی پراکندگی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 120, 15 July 2016, Pages 23-26
نویسندگان
, , ,