کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7924060 1511936 2018 12 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Intensity analysis of polarized Raman spectra for off axis single crystal silicon
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل شدت طیف پلاریزه شده رامان برای سیلیکون تک بلوری محور
کلمات کلیدی
طیف سنجی رامان، تحلیل قطبی شدن، سیلیکون، مواد الکترونیکی، مشخصه نوری،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش مقاله
تجزیه و تحلیل شدت طیف پلاریزه شده رامان برای سیلیکون تک بلوری محور
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volume 230, April 2018, Pages 31-42
نویسندگان
, ,