کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7924301 | 1511974 | 2015 | 26 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of electrical fatigue by defect engineering in organic light-emitting diodes
ترجمه فارسی عنوان
بررسی خستگی الکتریکی توسط مهندسی نقص در دیودهای آلی نور
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
چکیده انگلیسی
- Electrical fatigue is investigated in PPV-based polymer light-emitting diodes.
- Bromide defects remaining from Gilch synthesis limit PLED lifetime.
- Electrical stress yields lower hole mobility & transition to dispersive transport.
- Triplet excitons reduce lifetime and EL-emission-induced degradation observed.
- Self-consistent drift-diffusion model for charge carrier injection and transport.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volume 192, February 2015, Pages 26-51
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volume 192, February 2015, Pages 26-51
نویسندگان
Andrea Gassmann, Sergey V. Yampolskii, Andreas Klein, Karsten Albe, Nicole Vilbrandt, Oili Pekkola, Yuri A. Genenko, Matthias Rehahn, Heinz von Seggern,