کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7924301 1511974 2015 26 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Study of electrical fatigue by defect engineering in organic light-emitting diodes
ترجمه فارسی عنوان
بررسی خستگی الکتریکی توسط مهندسی نقص در دیودهای آلی نور
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
چکیده انگلیسی

- Electrical fatigue is investigated in PPV-based polymer light-emitting diodes.
- Bromide defects remaining from Gilch synthesis limit PLED lifetime.
- Electrical stress yields lower hole mobility & transition to dispersive transport.
- Triplet excitons reduce lifetime and EL-emission-induced degradation observed.
- Self-consistent drift-diffusion model for charge carrier injection and transport.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volume 192, February 2015, Pages 26-51
نویسندگان
, , , , , , , , ,