کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7938274 | 1513115 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Correlation between microstructure and properties of hydrogenated Si thin films grown by plasma enhanced chemical vapor deposition under different hydrogen flow rates
ترجمه فارسی عنوان
همبستگی بین ریزساختار و خصوصیات فیلم های نازک هیدروژنه سیکل رشد شده توسط افزایش پلاسمای تخمیر بخار در جریان های مختلف هیدروژن
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی انرژی
انرژی های تجدید پذیر، توسعه پایدار و محیط زیست
چکیده انگلیسی
In order to characterize the surface of nanocrystalline hydrogenated silicon (nc-Si:H) and to get more insight into the film's growth deposited by plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD), spectroscopic ellipsometry measurements have been performed after deposition of profiled layers at different hydrogen flow rate (FH2). This study showed that by increasing the FH2, the layer's thickness decrease and at the same time the Tauc's optical band gap remains as high as 1.45Â eV or much higher. This can be attributed to either the presence of microvoids in the films or an increase in the bonded hydrogen content.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Solar Energy - Volume 103, May 2014, Pages 12-18
Journal: Solar Energy - Volume 103, May 2014, Pages 12-18
نویسندگان
Sana Ben Amor, Rabaa Bousbih, Rachid Ouertani, Wissem Dimassi, Hatem Ezzaouia,