کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7953747 1513744 2016 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In situ measurement of lithiation-induced stress in silicon nanoparticles using micro-Raman spectroscopy
ترجمه فارسی عنوان
اندازه گیری تناوب ناشی از لیتیمایی در ناحیه سیلیکون با استفاده از طیف سنجی میکرو رامان
کلمات کلیدی
آندز سیلیکون، فشار، طیف سنجی رامان، باتری های یون لیتیوم، فشار بالا،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی انرژی انرژی (عمومی)
پیش نمایش مقاله
اندازه گیری تناوب ناشی از لیتیمایی در ناحیه سیلیکون با استفاده از طیف سنجی میکرو رامان
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nano Energy - Volume 22, April 2016, Pages 105-110
نویسندگان
, , , , , ,