کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8039520 | 1518609 | 2018 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effects of argon sputtering and UV-ozone radiation on the physico-chemical surface properties of ITO
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy (UPS) were used to evaluate and determine the effects of 1Â KeV Ar+ irradiation (sputtering) on the surface chemical composition and work function of Indium Thin Oxide (ITO). While Ar+ sputtering removes carbon-based surface contaminants, it also modifies the Sn-rich surface of ITO and leads to a reduction of the oxidation state of Sn from Sn4+ to Sn2+. The decrease in the work function of ITO is directly correlated to the decrease of Sn atomic concentration in the Sn-rich top surface layer and the reduction of the oxidation state of surface Sn.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 414, 1 January 2018, Pages 170-175
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 414, 1 January 2018, Pages 170-175
نویسندگان
Hui Che, M. El Bouanani,