کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8041523 | 1518687 | 2014 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Development of a TOF SIMS setup at the Zagreb heavy ion microbeam facility
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We describe a new Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF SIMS) setup for MeV SIMS application, which is constructed and installed at the heavy ion microbeam facility at the RuÄer BoÅ¡koviÄ Institute in Zagreb. The TOF-SIMS setup is developed for high sensitivity molecular imaging using a heavy ion microbeam that focuses ion beams (from C to I) with sub-micron resolution. Dedicated pulse processing electronics for MeV SIMS application have been developed, enabling microbeam-scanning control, incoming ion microbeam pulsing and molecular mapping. The first results showing measured MeV SIMS spectra as well as molecular maps for samples of interest are presented and discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 332, 1 August 2014, Pages 234-237
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 332, 1 August 2014, Pages 234-237
نویسندگان
TonÄi TadiÄ, Iva BogdanoviÄ RadoviÄ, Zdravko SiketiÄ, Donny Domagoj Cosic, Natko Skukan, Milko JakÅ¡iÄ, Jiro Matsuo,