Structural and elemental X-ray microanalysis with synchrotron radiation in confocal geometry

طیف سنجی برای میکروسکوپ سه بعدی ساختاری و چند سلولی با اشعه سنکروترون در این مقاله ارائه شده است. این براساس ترکیبی از فلورسانس اشعه ایکس پراکنده انرژی و پراش پرتو با پیک پلیکاپیلا است. رزولوشن مکانی سه بعدی توسط ابررساناها از دو لنز تنظیم شده در هندسه کانوکنال به دست آمد. پارامترهایی که بر عملکرد اسپکترومتر تأثیر می گذارند، به طور دقیق مورد بررسی قرار گرفتند که به روش کالیبراسیون ساده برای تحلیل پروفایل عمق کمک می کند. دو مثال خاص برای نشان دادن استفاده از طیف سنج به منظور شناسایی زمینه های کاربردی احتمالی آنها گنجانده شده است.