کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8045386 | 1518982 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Deposition of microcrystalline intrinsic silicon by the Electrical Asymmetry Effect technique
ترجمه فارسی عنوان
رسوب سازی سیلیکون ذاتی میکرو کریستالی با تکنیک اثر ناسازگاری الکتریکی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
چکیده انگلیسی
⺠The EAE technique is a new deposition method of thin silicon films. ⺠The EAE technique allows control the deposition rate independently on electrodes. ⺠With the EAE discharge two conditions of the plasma are combined: low ion energy and a high density of electrons. ⺠With EAE technique better deposited films uniformity is achieved. ⺠With EAE technique the deposition rate of thin silicon films increased without quality drop.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Vacuum - Volume 87, January 2013, Pages 114-118
Journal: Vacuum - Volume 87, January 2013, Pages 114-118
نویسندگان
D. Hrunski, F. Mootz, A. Zeuner, A. Janssen, H. Rost, R. Beckmann, S. Binder, E. Schüngel, S. Mohr, D. Luggenhölscher, U. Czarnetzki, G. Grabosch,