کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8147025 | 1524115 | 2015 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantitative infrared thermography applied to subgrain scale and the effect of out-of-plane deformation
ترجمه فارسی عنوان
ترموگرافی مادون قرمز کمی به مقیاس زیرگروه و اثر تغییر شکل خارج از هواپیما اعمال می شود
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ترموگرافی مادون قرمز، تابش اشعه، کریستال تک تغییر شکل خارج از هواپیما، مشخصات سطح،
ترجمه چکیده
این مقاله مربوط به کاربرد ترموگرافی مادون قرمز برای مطالعه رفتارهای مواد در مقیاس ریزساختار است. یک نمونه کریستال نیکل خالص مورد بررسی قرار گرفت و یک روش ترموگرافی برای اندازه گیری کمی بر روی مقیاس زیرگروه توسعه یافت. کریستال نیکل به صورت پلاستیکی در یک تست کششی تغییر شکل داده شده و تغییر شکل قابل توجهی از خارج از لبه روی سطح ماده در قالب نشانه های لغزش دیده می شود. تغییر شکل خارج از هوا باعث ایجاد آثار قابل توجهی از رادیومتری در زمینه های اندازه گیری حرارتی شده است که در نتیجه تغییر اصطکاک ظاهری روی سطح ماده است. وابستگی هندسی اظهاریه ظاهری به صورت کمی بر اساس اندازه گیری میزان انتشار و توزیع پروفایل سطح مورد تجزیه و تحلیل قرار گرفت. مطالعه نشان می دهد که میزان انتشار ظاهری با افزایش تغییر زاویه مشاهده کاهش می یابد، که با تجزیه و تحلیل نظری موافق خوبی است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک اتمی و مولکولی و اپتیک
چکیده انگلیسی
This paper is concerned with an application of infrared thermography to study the material behaviors on the microstructure scale. A single crystal specimen of pure nickel was investigated, and a thermographic methodology was developed for realizing a quantitative measurement on the subgrain scale. The nickel single crystal was plastically deformed in a tensile test, and notable out-of-plane deformation manifested on the material surface in the form of slip markings. The out-of-plane deformation introduced significant radiometric artifacts in the measured thermal fields, as a result of the modification of apparent emissivity on the material surface. The geometrical dependence of the apparent emissivity was analyzed quantitatively based on the measured emissivity and surface profile distributions. The study demonstrates that the apparent emissivity decreases with the increase of the variation of the angle of observation, which is in good agreement with the theoretical analysis.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 71, July 2015, Pages 432-438
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 71, July 2015, Pages 432-438
نویسندگان
Xiaogang Wang, Jean-François Witz, Ahmed El Bartali, Abdelali Oudriss, Chao Jiang,