کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8172411 | 1526330 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
An evidence of strong electron-phonon interaction in the neutron irradiation induced defects in silicon
ترجمه فارسی عنوان
شواهدی از تعامل قوی الکترون-فونون در نارسایی نوترون ناشی از نقص در سیلیکون است
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
خوشه های نقص، جذب عکس، تعامل الکترونی فونون،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
چکیده انگلیسی
Silicon material was irradiated with reactor neutrons, which unavoidably created clusters of defects. Spectral photo current measurements in the range from 0.5Â eV up to 1.4Â eV showed accumulation of the signal and long time relaxation behavior in some series of Si (MCZ and FZ) wafers. The proposed differential spectrum analysis method revealed the defects corresponding to strong electron-phonon coupling centers.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 796, 1 October 2015, Pages 114-117
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 796, 1 October 2015, Pages 114-117
نویسندگان
Juozas Vidmantis Vaitkus, Vytautas Rumbauskas, Giedrius Mockevicius, Ernestas Zasinas, Algirdas Mekys,