کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8174857 | 1526358 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A fast iterative technique for restoring scanning electron microscope images
ترجمه فارسی عنوان
یک تکنیک تکرار سریع برای بازگرداندن تصاویر میکروسکوپ الکترونی اسکن
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ترمیم تصویر، میکروسکوپ الکترونی اسکن، ترمیم ایدئولوژیک، ریچاردسون لوسی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
چکیده انگلیسی
This paper proposes a fast new technique for restoring scanning electron microscope images to improve their sharpness. The images with our approach are sharpened by deconvolution with the point spread function modeled as the intensity distribution of the electron beam at the specimen׳s surface. We propose an iterative technique that employs a modified cost function based on the Richardson-Lucy method to achieve faster processing. The empirical results indicate significant improvements in image quality. The proposed approach speeds up deconvolution by about 10-50 times faster than that with the conventional Richardson-Lucy method.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 768, 21 December 2014, Pages 89-95
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 768, 21 December 2014, Pages 89-95
نویسندگان
Kenji Nakahira, Atsushi Miyamoto, Toshifumi Honda,