کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
8181180 1526431 2012 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High resolution surface scanning of Thick-GEM for single photo-electron detection
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله
High resolution surface scanning of Thick-GEM for single photo-electron detection
چکیده انگلیسی
► First demonstration of Thick GEM surface scanning with single photo-electrons. ► Resolution of 0.1 mm is sufficient to identify structures connected to TGEM surface field structure. ► Gain and detection efficiency and separately measurable. ► Detection efficiency is high in a ring around the holes, and gain is constant in the hexagonal collection regions.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 694, 1 December 2012, Pages 16-23
نویسندگان
, ,