کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8181180 | 1526431 | 2012 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High resolution surface scanning of Thick-GEM for single photo-electron detection
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠First demonstration of Thick GEM surface scanning with single photo-electrons. ⺠Resolution of 0.1 mm is sufficient to identify structures connected to TGEM surface field structure. ⺠Gain and detection efficiency and separately measurable. ⺠Detection efficiency is high in a ring around the holes, and gain is constant in the hexagonal collection regions.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 694, 1 December 2012, Pages 16-23
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 694, 1 December 2012, Pages 16-23
نویسندگان
G. Hamar, D. Varga,