کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8189261 | 1528845 | 2013 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Search for lepton number violating charged current processes with neutrino beams
ترجمه فارسی عنوان
جستجو برای تعداد لپتون را که نقاط فرایند جریان شارژ را با پرتو نوریینو نقض می کند جستجو کنید
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
ترجمه چکیده
ما پیشنهاد ایده ای جدید در اندازه گیری برای درک اینکه مکانیسم فیزیک مسئول منشا توده کوچک نوتینین است، با جستجو برای فرآیند تعداد لپونتون نقض تعامل جریان شارژ با حادثه پرتو نوترینو. به نظر می رسد که تنها اندازه گیری های پیشنهادی می تواند توانایی تشخیص مکانیزم ها، به ویژه آنهایی که مکانیسم تولید ناخالص نوتروین ناشی از حلقه هستند، از دیگران فراهم کند. نرخ انتظاری این فرایندها بر اساس برخی مفروضات نظری تخمین زده می شود. یافته های آنها قابل توجه است تا تشخیص این فرآیندها در آشکارسازهای نزدیکی در آینده در امتداد پرتوهای نوترونی بسیار شدید امکان پذیر باشد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک هسته ای و انرژی بالا
چکیده انگلیسی
We propose a novel idea on measurements to understand which physics mechanism is responsible for the origin of a small neutrino mass, by searching for the processes of lepton number violating charged current interaction with incident of a neutrino beam. It turns out that only the proposed measurements could provide a potential to discriminate the mechanisms, in particular the ones called loop-induced mechanisms of neutrino mass generation, from the others. The expected rates of these processes based on some theoretical assumptions are estimated. They are found to be sizable so that detection of such processes could be achievable at near detectors in future highly intense neutrino-beam facilities.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physics Letters B - Volume 719, Issues 4â5, 26 February 2013, Pages 373-377
Journal: Physics Letters B - Volume 719, Issues 4â5, 26 February 2013, Pages 373-377
نویسندگان
Shinya Kanemura, Yoshitaka Kuno, Toshihiko Ota,