کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8202924 | 1530073 | 2016 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Friedel oscillations in graphene-based systems probed by Scanning Tunneling Microscopy
ترجمه فارسی عنوان
نوسانات فریدل در سیستم های مبتنی بر گرافن با استفاده از میکروسکوپ تونل زنی اسکن شده
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک و نجوم (عمومی)
چکیده انگلیسی
Depuis 25 ans, les scientifiques utilisent la microscopie à effet tunnel afin de visualiser dans l'espace direct la réponse d'un gaz d'électron bidimensionnel à des impuretés de taille atomique. L'analyse des oscillations de Friedel générées autour de telles impuretés donne des informations précieuses sur le système 2D : propriétés de diffusion élastique, structure de bande, niveau de dopage et symétrie des états électroniques. Cet article est consacré à l'analyse par microscopie à effet tunnel des oscillations de Friedel dans le graphène, matériau 2D star de cette dernière décennie. En particulier, nous montrons comment cette technique permet d'accéder au pseudospin, un degré de liberté unique propre aux fermions de Dirac du graphène.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Comptes Rendus Physique - Volume 17, Issues 3â4, MarchâApril 2016, Pages 294-301
Journal: Comptes Rendus Physique - Volume 17, Issues 3â4, MarchâApril 2016, Pages 294-301
نویسندگان
Pierre Mallet, Iván Brihuega, Vladimir Cherkez, Jose Marìa Gómez-RodrÃguez, Jean-Yves Veuillen,