کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
852309 | 909369 | 2009 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Kinematic simulation of convergent beam low-energy electron diffraction patterns
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Kinematic simulations are used to investigate the geometrical properties of convergent beam low-energy electron diffraction patterns from an Si(0 0 1) surface. Compression of a low-energy electron microscope immersion lens is included explicitly and the sensitivity of patterns to surface reconstruction and dimer buckling is investigated. Key pattern features and whole pattern symmetries are identified from the simulations and interpreted geometrically. Advantages over conventional low-energy electron diffraction techniques are identified.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optik - International Journal for Light and Electron Optics - Volume 120, Issue 9, May 2009, Pages 401–408
Journal: Optik - International Journal for Light and Electron Optics - Volume 120, Issue 9, May 2009, Pages 401–408
نویسندگان
G. Ruben, D.E. Jesson, D.M. Paganin, A.E. Smith,