کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9567234 | 1503711 | 2005 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atomic-scale calculation of interface energy for Ag/Ni
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The energies of (0 0 1)Ag/(1 1 1)Ni, (0 1 1)Ag/(1 1 1)Ni and (1 1 1)Ag/(1 1 1)Ni twist boundaries have been calculated with modified analytical embedded atom method (MAEAM). The results show that the interface energies corresponding to (1 1 1)Ag/(1 1 1)Ni, (0 0 1)Ag/(1 1 1)Ni and (0 1 1)Ag/(1 1 1)Ni increase successively and three lowest energies corresponding to twist angles θ = 2.10°, 15° and 28.93° for (1 1 1)Ag/(1 1 1)Ni, (0 0 1)Ag/(1 1 1)Ni and (0 1 1)Ag/(1 1 1)Ni are 272, 743.3 and 1094.3 mJ/m2, respectively. The epitaxial growth of Ag film on (1 1 1)Ni substrate driven solely by minimization of interface energy should result in the predominance of (1 1 1) grains, especially twist angle θ = 2.10°.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 246, Issues 1â3, 15 June 2005, Pages 14-22
Journal: Applied Surface Science - Volume 246, Issues 1â3, 15 June 2005, Pages 14-22
نویسندگان
Jian-Min Zhang, Hong Xin, Xiu-Mei Wei,