کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9572392 | 1503708 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Enhanced peak separation in XPS with external biasing
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We have demonstrated that the Au 4f peaks of the capped gold nanoparticles deposited on a SiO2 (20Â nm)/Si substrate can be separated form the Au 4f peaks of a gold metal strip, in contact with the same sample, by application of an external voltage bias to the sample rod while recording the XPS spectra. The external bias controls the flow of low-energy electrons falling on to the sample which in-turn controls the extent of the differential charging of the oxide layer leading to shifts in the binding energy of the gold nanoparticles in contact with the layer. The method is simple and effective for enhancing peak separation and identification of hetero-structures.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 249, Issues 1â4, 15 August 2005, Pages 12-15
Journal: Applied Surface Science - Volume 249, Issues 1â4, 15 August 2005, Pages 12-15
نویسندگان
Gulay Ertas, U. Korcan Demirok, Sefik Suzer,