کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9594475 | 1507963 | 2005 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Pit formation and segregation effects during Cu thin-film growth on Ag(1Â 1Â 1)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The growth of 2-40Â ML Cu on Ag(1Â 1Â 1) is investigated using scanning tunnelling microscopy (STM). The surface morphology of this bimetallic system appears to be dominated by Ag segregation. At large Cu coverages, a very moderate annealing favours the segregation process and the formation of characteristic pits penetrating through the Cu film. The segregation effect is evidenced by the (9Â ÃÂ 9) superstructure reported for one Ag monolayer deposited onto Cu(1Â 1Â 1). Some holes that penetrate well into the Ag substrate are interpreted as efficient diffusion paths for Ag atoms segregating towards the surface.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 596, Issues 1â3, 10 December 2005, Pages 45-52
Journal: Surface Science - Volume 596, Issues 1â3, 10 December 2005, Pages 45-52
نویسندگان
C. Maurel, M. Abel, M. Koudia, F. Bocquet, L. Porte,