کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9594996 | 1507961 | 2005 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A medium-energy ion scattering investigation of the structure and surface vibrations of two-dimensional YSi2 grown on Si(1Â 1Â 1)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
Surface relaxation and reconstruction - آرامسازی و بازسازی سطحYttrium - ایتریومIon–solid interactions, scattering, channeling - تعاملات یونی جامد، پراکندگی، کانال کردنMetal–semiconductor interfaces - رابطهای نیمه هادی فلزیSurface structure, morphology, roughness, and topography - ساختار سطح، مورفولوژی، زبری و توپوگرافیsilicon - سیلیسیم Silicides - سیلیکاتMedium energy ion scattering (MEIS) - پراکندگی یونی انرژی متوسط (MEIS)
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Medium-energy ion scattering has been used to determine the atomic structure of two-dimensional yttrium silicide on silicon (1 1 1). A full quantitative analysis of the atomic positions of the Si atoms in the top bilayer yields a model similar to that previously suggested in the literature with a Si1-Si2 vertical spacing of 0.80 ± 0.03 Ã
, but with the Si bilayer relaxed slightly further away from the Y layer (Si2-Y vertical spacing of 1.89 ± 0.02 Ã
). Observing the effects of the top bilayer vibrations yields a model with significant enhancements.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 598, Issues 1â3, 20 December 2005, Pages 120-127
Journal: Surface Science - Volume 598, Issues 1â3, 20 December 2005, Pages 120-127
نویسندگان
T.J. Wood, C. Bonet, T.C.Q. Noakes, P. Bailey, S.P. Tear,