کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
9672351 1450567 2005 12 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Novel concepts for reliability technology
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Novel concepts for reliability technology
چکیده انگلیسی
We clarify the procedure to improve reliability and to identify the failure mode in order to find for right solutions and recommend a generalized life-stress failure model.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 45, Issues 3–4, March–April 2005, Pages 611-622
نویسندگان
, ,