کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9672351 | 1450567 | 2005 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Novel concepts for reliability technology
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We clarify the procedure to improve reliability and to identify the failure mode in order to find for right solutions and recommend a generalized life-stress failure model.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 45, Issues 3â4, MarchâApril 2005, Pages 611-622
Journal: Microelectronics Reliability - Volume 45, Issues 3â4, MarchâApril 2005, Pages 611-622
نویسندگان
Dongsu Ryu, Seogweon Chang,