کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
9778035 1510568 2005 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A new technique to characterize endurance of EEPROM tunnel oxides
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
A new technique to characterize endurance of EEPROM tunnel oxides
چکیده انگلیسی
In this study, the critical parameters relevant to endurance of EEPROM memory cells are theoretically determined from cells geometrical design and programming pulses temporal shape. A new experimental technique is then proposed to realize realistic current pulsed stresses on dedicated large area cell test structures. The influence of the different relevant pulses parameters is finally experimentally studied and discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 351, Issues 21–23, 15 July 2005, Pages 1890-1896
نویسندگان
, , ,