کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
9783915 1512026 2005 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural characterisation of self-implanted Si after HT-HP treatment
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Structural characterisation of self-implanted Si after HT-HP treatment
چکیده انگلیسی
The agreement between results obtained by spectroscopic ellipsometry (SE) and other optical techniques has been found.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volumes 124–125, 5 December 2005, Pages 170-173
نویسندگان
, , , , ,