کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9817456 | 1518765 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Beyond single scattering off flat samples
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Most RBS data analysis assumes straight trajectories and one single large angle backscattering event for the analysing beam, and flat sample surface and interfaces. Multiple scattering, plural scattering, and roughness are often ignored. This may lead to erroneous data analysis. In complex systems, understanding and taking into account these effects is essential. We discuss pitfalls that can occur when they are ignored, with emphasis on multilayer systems.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 241, Issues 1â4, December 2005, Pages 316-320
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 241, Issues 1â4, December 2005, Pages 316-320
نویسندگان
N.P. Barradas, A. Fonseca, N. Franco, E. Alves,