کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9817491 | 1518766 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Material dependence of total electron emission yields following slow highly charged ion impact
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The total electron emission yields following the interaction of “Slow (⩽2 keV/a.u.) Highly Charged Ions” (SHCI) (O3+â¯7+, Xe12+â¯52+, Au54+â¯69+) with different target surfaces (highly-oriented pyrolytic graphite (HOPG), Au and SiO2) have been measured. The emission yields increase with charge state, and is found to be highest for carbon, the HOPG target, and lowest for the SiO2 target. An empirical formula for the electron emission is including recent results from investigations of plasmon excitation following SHCI impact are used to interpret the results.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 240, Issue 4, December 2005, Pages 829-833
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 240, Issue 4, December 2005, Pages 829-833
نویسندگان
J.W. McDonald, T. Schenkel, A.V. Hamza, D.H.G. Schneider,