کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
9817563 1518767 2005 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Recent developments of material analysis with PIXE
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سطوح، پوشش‌ها و فیلم‌ها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Recent developments of material analysis with PIXE
چکیده انگلیسی
The present state and recent developments of the PIXE method are presented. Fields of application, improvements of the instrumentation and the new installations are reviewed. The bases of physical parameters needed for data evaluation are discussed. The progress in numerical methods is shown, especially on the methods for the in-depth analysis and the evaluation of concentration profiles.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms - Volume 240, Issues 1–2, October 2005, Pages 258-264
نویسندگان
,