کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9821491 | 1518985 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Relaxation processes in As2S3 thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سطوح، پوششها و فیلمها
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Time changes in refractive index and stress distribution across film thickness in the range from 10 to 106Â s and the effect of thermal annealing on thin As2S3 films deposited by thermal evaporation have been studied. A correlation between the refractive index and mechanical stress of the films has been found.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Vacuum - Volume 80, Issues 1â3, 14 October 2005, Pages 128-131
Journal: Vacuum - Volume 80, Issues 1â3, 14 October 2005, Pages 128-131
نویسندگان
N.D. Savchenko, T.N. Shchurova, N.Yu. Baran, A.A. Spesivykh,