کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9845362 | 1526512 | 2005 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Influence of backscattering on the spatial resolution of semiconductor X-ray detectors
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
ابزار دقیق
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Influence of backscattering on the spatial resolution of semiconductor X-ray detectors Influence of backscattering on the spatial resolution of semiconductor X-ray detectors](/preview/png/9845362.png)
چکیده انگلیسی
We found a significant degradation of the MTF compared to the case without backscattering. At energies above the K-edge of the backscattering material the spatial resolution drops and can account for the observed low-frequency drop of the MTF. Ignoring this backscatter effect might lead to misinterpretations of the charge sharing effect in counting pixel detectors.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 546, Issues 1â2, 1 July 2005, Pages 252-257
Journal: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment - Volume 546, Issues 1â2, 1 July 2005, Pages 252-257
نویسندگان
M. Hoheisel, A. Korn, J. Giersch,