دانلود مقالات ISI درباره 68.37.ma + ترجمه فارسی

High-resolution imaging of 1:1 [0 0 0 1] ordered a-plane Al0.3Ga0.7N

Keywords: 61.72.Ff; 68.37.Og; 68.37.Ma; 81.05.EaA1. Characterization; A3. Metal-organic chemical vapor deposition; B1. Nitrides

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

StripeSTEM, a technique for the isochronous acquisition of high angle annular dark-field images and monolayer resolved electron energy loss spectra

Keywords: STEM; EELS; Interfaces; 68.37.Ma; 79.20.Uv;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Bandgap measurement of thin dielectric films using monochromated STEM-EELS

Keywords: 82.80.Dx; 79.20.Uv; 68.37.Ma; 77.55.+f; Bandgap measurement; Monochromtor; STEM; EELS; AES; REELS; a-SiNx; SiO2; Charge trap memory;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Mapping of valence energy losses via energy-filtered annular dark-field scanning transmission electron microscopy

Keywords: 71.20.−b; 73.20.At; 68.37.Ma; 25.55.Ci; EFTEM; EF-STEM; EELS; Band-gap;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Preparation of location-specific thin foils from Fe–3% Si bi- and tri-crystals for examination in a FEG-STEM

Keywords: 06.60.Ei; 68.35.Dv; 68.37.Ma; 68.49.−h; 79.20.−m; 68.35.bdFEG-STEM; Fe–3% Si; Thin foils; Focused ion beam

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Quantitative evaluation of process induced strain in MOS transistors by Convergent Beam Electron Diffraction

Keywords: 61.05.J −; 61.05.jm; 68.37.Ma; 85.40. −e; 85.30.De; 81.40.Jj; 02.70.Dh; CBED; Strain; Stress; Relaxation; MOS transistors; Finite element modeling;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Three dimensional analyses of flux pinning centers in Dy-doped YBa2Cu3O7−x coated superconductors by STEM tomography

Keywords: 68.37.Ma; 42.30.Wb; 74.78.Fk; Coated superconductors; Flux pinning; Scanning transmission electron microscopy; Electron tomography;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

“Ab initio” structure solution from electron diffraction data obtained by a combination of automated diffraction tomography and precession technique

Keywords: 61.05.J−; 68.37.Ma; 61.05.jmElectron diffraction; STEM; Nanodiffraction; Automation; Tomography; Precession electron technique; Structure solution

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Image simulation of high resolution energy filtered TEM images

Keywords: 61.05.jd; 61.85.+p; 68.37.Ma; 79.20.Uv; Image simulation; Inelastic scattering; Coherence; EELS; EFTEM;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 11 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Improvement in optical transmission of the ambient pressure dried hydrophobic nanostructured silica aerogels with mixed silylating agents

Keywords: 82.80.-k; 68.37.Lp; 68.37.Ma; 61.43Gt; 78.67.Bf; 82.33.Ln; 72.15.CzIon exchange; TEM/STEM; Porosity; Nanoparticles; Silica; Aerogels; Thermal conductivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Application of image processing to STEM tomography of low-contrast materials

Keywords: 68.37.Ma; 42.30.Wb; 74.78.Fk; Scanning transmission electron microscopy; Electron tomography; Image processing; Low-contrast materials; Heterostructured superconductors;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 15 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Beam spreading and spatial resolution in thick organic specimens

Keywords: 68.37.Ma; 87.57.cfSTEM; Spatial resolution; Thick section; Plural elastic scattering

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Extending the analysis of EELS spectrum-imaging data, from elemental to bond mapping in complex nanostructures

Keywords: 61.46.Df; 68.37.Ma; 82.80.PvEELS; Spectrum-imaging; MLS; Chemical bonding maps

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Towards better 3-D reconstructions by combining electron tomography and atom-probe tomography

Keywords: 68.37.Ma; 79.70.+q; 42.30.WbSTEM tomography; Atom-probe tomography; Three-dimensional reconstructions; Reconstruction artifacts

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

SnO2 nanobelts and nanocrystals: Synthesis, characterization and optical properties

Keywords: 62.23.Hj; 68.37.Ma; 68.37.OgA1. Characterization; A1. Low dimensional structures; A1. Nanostructures; B1. Nanomaterials; B2. Semiconducting materials

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Bloch wave-based calculation of imaging properties of high-resolution scanning confocal electron microscopy

Keywords: 68.37.Ma; 87.64.Ee; 87.64.mkConfocal electron microscopy; Confocal STEM; SCEM; Optical sectioning; Bloch wave method; Image simulation; 3D STEM

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Effects of tilt on high-resolution ADF-STEM imaging

Keywords: 68.37.Ma; 34.80.Bm; 61.85.++p; 61.72.ufSTEM; Tilt; ADF imaging; Aberration-correction; Si

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopy, Part II: Inelastic scattering

Keywords: 61.05.jd; 68.37.Ma; 82.80.PvScanning confocal electron microscopy (SCEM); Scanning transmission electron microscopy (STEM); Depth sectioning; Electron energy loss spectroscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 12 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Effects of amorphous layers on ADF-STEM imaging

Keywords: 68.37.Ma; 61.43.Bn; 61.05.J−STEM; ADF imaging; Aberration correction; Multislice simulation; Si

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 13 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه