Keywords: 79.20.-متر; plasma discharge; Luminous degradation; Organic residue; Protective layer; Re-deposition; 52.75.-d; 79.20.-m; 82.50.-m;
مقالات ISI 79.20.-متر (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Wave-packet study of hyperthermal alkali ion neutralization at metal surfaces
Keywords: 79.20.-متر; 79.20.-m; 71.10.-w; 73.20.-r; Impact phenomena (including electron spectra and sputtering); Theories and models of many-electron systems; Electron states at surfaces and interfaces;
Computer simulation of sputtering at the low index (1 0 0), (1 1 0) and (1 1 1) surfaces of Ni3Al in a STEM
Keywords: 79.20.-متر; 07.05.Tp; 68.47.De; 79.20.-m; 68.37.LpSurface sputtering; Ni3Al; Molecular dynamics simulation; STEM
Improved calculation of Si sputter yield via first principles derived interatomic potential
Keywords: 79.20.-متر; 34.20.Cf; 34.35.+a; 68.49.Sf; 79.20.-m; Interatomic potential; Density functional theory; Sputter yield;
Angular dependence of electronic sputtering from HOPG
Keywords: 79.20.-متر; 79.20.-m; 61.80.JhElectronic sputtering; Angular distribution; Swift heavy ions; ERDA; HOPG; Amorphous carbon
Cesium/xenon co-sputtering at different energies during ToF-SIMS depth profiling
Keywords: 79.20.-متر; 79.20.-m; 82.80.Ms; 82.80.PvCesium; Silicon; Ionization; Xenon; ToF-SIMS; XPS; Energy; Co-sputtering